Blog sobre electrónica y tecnología    /    Materiales de 05.11.2026    /    Página 9

BFG21W. NXP Semiconductors. Rev. 6 julio 1998; NXP branding. Consulta el PDF y descarga el original.

BFG403W. NXP Semiconductors. Rev. 11 marzo 1998; NXP branding. Consulta el PDF y descarga el original.

BGA2001. NXP Semiconductors. Rev. 11 agosto 1999; NXP branding. Consulta el PDF y descarga el original.

BFM505. NXP Semiconductors. Rev. 8 octubre 1996; NXP branding. Consulta el PDF y descarga el original.

BGA2022. NXP Semiconductors. Rev. 4 diciembre 2000; NXP branding. Consulta el PDF y descarga el original.

BFM520. NXP Semiconductors. Rev. 8 octubre 1996; NXP branding. Consulta el PDF y descarga el original.

BUK6D30-40E. Nexperia. Rev. v.1, 11 marzo 2020. Consulta el PDF y descarga el original.

PXP1500-100QS. Nexperia. Rev. v.2, 20 noviembre 2021. Consulta el PDF y descarga el original.

BUK7D36-60E. Nexperia. Rev. v.1, 11 marzo 2020. Consulta el PDF y descarga el original.

BUK7D25-40E. Nexperia. Rev. v.1, 13 diciembre 2017. Consulta el PDF y descarga el original.

PBSS4540Z. NXP Semiconductors. Rev. 14 noviembre 2001; NXP identidad de marca 2009; adjunto Nexperia 2017 aviso. Consulta el PDF y descarga el original.

PMEG6020ER. Nexperia. Rev. v.3, 28 febrero 2019. Consulta el PDF y descarga el original.

BAS28. Nexperia. Rev. Rev.3, 22 julio 2010; Nexperia branding. Consulta el PDF y descarga el original.

PESD1LIN. Nexperia. Rev. Rev.3, 31 mayo 2011; Nexperia identidad de marca 2017. Consulta el PDF y descarga el original.

PMEG4020EPK. Nexperia. Rev. v.2, 11 febrero 2014; Nexperia identidad de marca 2017; marcado corregido. Consulta el PDF y descarga el original.

PMEG2020EPK. Nexperia. Rev. v.2, 10 febrero 2014; Nexperia identidad de marca 2017; marcado corregido. Consulta el PDF y descarga el original.

PMEG4015EPK. NXP Semiconductors. Rev. Rev.2, 6 marzo 2012; adjunto Nexperia2017 aviso. Consulta el PDF y descarga el original.

PMEG4005EPK. Nexperia. Rev. v.3, 30 abril 2020. Consulta el PDF y descarga el original.